Издательство СО РАН

Издательство СО РАН

Адрес Издательства СО РАН: Россия, 630090, а/я 187
Новосибирск, Морской пр., 2

soran2.gif

Baner_Nauka_Sibiri.jpg


Яндекс.Метрика

Название:
Раздел:
 включая подразделы
Авторы:
Год выпуска:  до 
Ключевые слова:

Отказы интегральных схем

Отказы интегральных схем

Шубин В.В.
Новосибирск: СО РАН, 2025 г., 138 с., Тираж 300, ISBN 978-5-6052504-7-0

В монографии представлено описание многочисленных проблем отказов в работе интегральных схем (ИС) и их предотвращение конструктивно-технологическими и схемо-топологическими способами на ранних этапах проектирования. Рассмотрены, обобщены и систематизированы многие вопросы, связанные с проблемами отказов в работе ИС, включая обзор и анализ информационных материалов. Представлено множество примеров, которые можно использовать в практической деятельности с учетом современных тенденций развития в области разработки ИС, ос­нованных, в том числе на многолетнем опыте работы автора в индустрии микроэлектроники.
Материал монографии тщательно структурирован и изложен в фор­ме, доступной широкому кругу читателей, знакомых е основными по­нятиями в предметных областях физики твердого тела, физики полу­проводниковых приборов, технологии изготовления и с принципами и методологией проектирования современных ИС. Текст сопровождается наглядными рисунками, расшифровками и пояснениями.
Монография рекомендована широкому кругу исследователей и раз­работчиков, связанных по роду своей деятельности с проектированием и изготовлением ИС, исследованиями в области повышения качества и на­дежности компонентов и изделий ИС, представляет интерес для науч­ных работников, аспирантов и студентов, специализирующихся в данных областях.