Шубин В.В. Новосибирск: СО РАН, 2025 г., 138 с., Тираж 300, ISBN 978-5-6052504-7-0
В монографии представлено описание многочисленных проблем отказов в работе интегральных схем (ИС) и их предотвращение конструктивно-технологическими и схемо-топологическими способами на ранних этапах проектирования. Рассмотрены, обобщены и систематизированы многие вопросы, связанные с проблемами отказов в работе ИС, включая обзор и анализ информационных материалов. Представлено множество примеров, которые можно использовать в практической деятельности с учетом современных тенденций развития в области разработки ИС, основанных, в том числе на многолетнем опыте работы автора в индустрии микроэлектроники.
Материал монографии тщательно структурирован и изложен в форме, доступной широкому кругу читателей, знакомых е основными понятиями в предметных областях физики твердого тела, физики полупроводниковых приборов, технологии изготовления и с принципами и методологией проектирования современных ИС. Текст сопровождается наглядными рисунками, расшифровками и пояснениями.
Монография рекомендована широкому кругу исследователей и разработчиков, связанных по роду своей деятельности с проектированием и изготовлением ИС, исследованиями в области повышения качества и надежности компонентов и изделий ИС, представляет интерес для научных работников, аспирантов и студентов, специализирующихся в данных областях.
Наш сайт использует куки. Продолжая им пользоваться, вы соглашаетесь на обработку персональных данных в соответствии с политикой конфиденциальности. Подробнее